Ourstex 100FA X射線熒光光譜儀

產(chǎn)品型號：
更新時間：2023-09-27

簡要描述：Ourstex 100FA能量色散型X射線熒光光譜儀的X射線管發(fā)射出初級X射線到樣品上，通過半導體探測器檢測樣品激發(fā)出的熒光X射線，從而對樣品元素進行無損定性和定量分析。半導體探測器采用帶電動冷卻系統(tǒng)的硅漂移探測器（SDD），無需液氮冷卻，結(jié)合數(shù)字信號處理器（DSP），使得測試結(jié)果具有高分辨力。為了提高分析性能，良好的光學激發(fā)系統(tǒng)使得半導體探測器達到了很高的能量分辨率和測量靈敏度。

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產(chǎn)品詳情

Ourstex 100FA能量色散型X射線熒光光譜儀的X射線管發(fā)射出初級X射線到樣品上，通過半導體探測器檢測樣品激發(fā)出的熒光X射線，從而對樣品元素進行無損定性和定量分析。半導體探測器采用帶電動冷卻系統(tǒng)的硅漂移探測器(SDD)，無需液氮冷卻，結(jié)合數(shù)字信號處理器(DSP)，使得測試結(jié)果具有高分辨力。為了提高分析性能，良好的光學激發(fā)系統(tǒng)使得半導體探測器達到了很高的能量分辨率和測量靈敏度。

Ourstex 100FA X射線熒光光譜儀特點：

快速無損地進行成分分析

對大而/或不規(guī)則的試樣進行

近距離分析曲面試樣

小巧輕便，適用于現(xiàn)場分析

非接觸分析

Ourstex 100FA X射線熒光光譜儀應(yīng)用：

考古調(diào)查/分析

文化資產(chǎn)分析

工業(yè)材料R&D評定,質(zhì)量控制

高校/研究所材料研究分析

廢料鑒別

Ourstex 100FA X射線熒光光譜儀技術(shù)規(guī)格：

測定原理		能量色散型X射線熒光分析法
測定對象		固體、粉末、液體、薄膜、土壤滲出水、污水等
測定元素		11Na-92U
樣品形狀大小		封閉使用時3535mm(直徑高度) 開放使用時任意
發(fā)射源		X射線
樣品倉環(huán)境		大氣（真空可選）
測量范圍		約3mm直徑范圍
射線輸出		40kV-1.75mA，50W
檢測器		電子冷卻式SDD
數(shù)據(jù)處理		數(shù)字處理方式DSP（Digital Signal Processor）
軟件		自動定性分析、檢測線法定量分析、FP法定量分析（可選）
使用條件		溫度：5~27°C
		濕度：20~75%
		電源：AC 100, 5A或AC 220, 3A
		設(shè)置：D型接地線
其他附屬		噴墨式彩色打印機，鼠標等。
尺寸規(guī)格		測量頭：133170273mm,3.9kg XG部：32034080mm,9.2kg 控制器部：265340120mm,9kg 真空泵：190177132mm,3kg

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